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低速测量技术— GLFore振动测试仪
来源: | 作者:GLFore | 发布时间: 2014-07-04 | 1116 次浏览 | 分享到:
测量系统最基本的限制是传感器和信号线。要求GLFore振动测试仪传感器具有高灵敏度,好的低频性能和最好的温度特性。传感器侧盘绕的信号线很容易造成进入低频摆动模式,这样将传感器作用一个低频的动态力。GLFore振动测试仪采用数字积分技术获得频谱图,频谱图中一般都会体现振动谱线等结果。
低速测量技术— GLFore振动测试仪





    低速设备的振动问题一直是比较棘手的问题,使用振动加速度传感器监测低速机械振动时,转频上的振动幅值一般很低,通常低幅值的信号淹没在由它们和幅值较大的高频率信号组成的合成信号中,GLFore振动测试仪监测系统面临的问题是:从合成信号中提取出低幅信号,并且把感兴趣的低幅值信号与由电噪声或温度瞬变等引起的其他低幅值信号分开。

    测量系统最基本的限制是传感器和信号线。要求GLFore振动测试仪传感器具有高灵敏度,好的低频性能和最好的温度特性。传感器侧盘绕的信号线很容易造成进入低频摆动模式,这样将传感器作用一个低频的动态力。GLFore振动测试仪采用数字积分技术获得频谱图,频谱图中一般都会体现振动谱线等结果。